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标题: 浅谈 ProE技术的可变剖面扫描：多条轨迹线、一个截面（可用关系式来控制截面的变化） [打印本页]

作者: d6007007 时间: 2013-7-1 18:46
标题: 浅谈 ProE技术的可变剖面扫描：多条轨迹线、一个截面（可用关系式来控制截面的变化）
A、原点轨迹线：必须是一个相切链的曲线或直线
         1、控制截面在扫描过程形状变化
         2、控制截面草绘平面的原点
         3、控制截面与其垂直（截面控制）
         4、控制截面草绘平面的Y和Z轴方向
B、X轨迹线：1、控制截面在扫描过程形状变化
         2、控制截面草绘平面的X 和Z轴方向
         3、控制截面与其垂直（截面控制）
C、额外轨线：1、控制截面在扫描过程形状变化
         2、控制截面与其垂直（截面控制）
相切控制：必须有相邻的曲面作参考。
选项：1、可变剖面：用于多条轨迹线控制
   2、恒定剖面：用于单条轨迹线控制
   3、封闭端：用于作曲面
如果大家有更好的原创资料请发我邮箱baijiale@6007007.com一起交流探讨。

作者: liftsky802 时间: 2014-4-21 09:23
大神在出版的时候尽量备注下那个版本的，谢谢！

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